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掌上型光時域反射儀-SUN-OT5000系列

SUN-OT5000系列掌上型光時域反射儀是一款獨具匠心的光纖線路尋障分析產品,為光纖通信網測試提供了一種全新的應用方式,其穩定性和驚人的性價比在全球廣受矚目。其與傳統OTDR相比,其尺寸更加小巧,操作更為簡潔,獨特的熱鍵功能使事件的瀏覽和分析更加快捷;功能齊全,全面滿足單模(1310nm/1550nm)、多模(850 /1300nm)等光纖測試應用需求,支持平均/實時雙測量模式;其多功能背包亦充分考慮到了野外作業和實驗室測試的操作方便,可充分滿足不同用戶和各種現場測試需求,使其成為目前發展迅速的農話網、城域網和FTTx光纖施工、認證、例檢、搶修和維護中的首選工具
 

開機啟動時間小於5 秒
從開啟電源到進入界面並啟動測試只需要不到 5 秒的時間,用戶無需等待。
 

OTDR TraceManager 仿真軟件
基於Windows PC 機的軟件可以在 PC 機上對測試跡線進行分析/編輯,也可根據用戶需求生成不同形式的測試報告。
 

  • 可瀏覽和分析所測試跡線文件
  • Bellcore文件存儲格式
  • 顯示跡線,光纖事件,分析信息,測試參數等數據
  • 單頁單跡線或單頁多跡線可選打印模式批量修改和批量打印功能
  • 波形差異對比功能在仿真模式中,可在同一窗口同時打開多個波形,波形間的差異在同一窗口顯示出來,可以更容易地比較諸如光纖老化原因所造成的參數改變。
  • 雙方向分析測試功能
  • 全面光纖測試應用:
     單模:1310/1550nm,最大45dB
     多模:850/1300nm,18/22dB
  • 高效人機界面,掌上型輕量化設計(僅重1kg)
  • 獨特的熱鍵設計:按鍵操作集成熱鍵功能,快捷定位及分析事件點
  • USB/RS232數據接口
  • 1000條跡線存儲(C型)
  • 優化的供電設計:內置NiMH充電電池一次充電可支持8小時測量
  • 防塵、防震設計
     

技術指標:

型 號(1) 波長 (±20nm) 動態範圍 (dB)(2) 事件盲區(m) 衰減盲區(m)
SUN-OT5000-M

850/1300

18/22

7(6)

20(6)

SUN-OT5000-S1

1310/1550

24/24

10(5)

25(5)

SUN-OT5000-S2

1310/1550

32/32

2.5

14

SUN-OT5000-S3

1310/1550

38/37

2.5

14

SUN-OT5000-S4

1310/1550

45/43

2.5

14

測試範圍 (Km)(3)

0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10@850nm;

0.1, 0.3, 0.5, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80@1300nm

0.3, 1.3, 2.5, 5, 10, 20, 40, 80, 120, 160, 240@其他

脈寬(4)

12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs@850nm;

12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 1µs, 2.5µs@1300nm

5ns, 10ns, 12ns, 30ns, 100ns, 275ns, 300ns, 1µs, 2.5µs, 10µs, 20µs@其他

測量時間

15s, 30s, 1min, 2min, 3min

測距精度

±(1 m + 5×10-5×距離+取樣間距)

衰減測量精度(dB/dB)

±0.05

反射測量精度(dB)

±4

數據存儲

SUN-OT5000-S3,S4型:1000條測試曲線;SUN-OT5000-M,S1型:300條測試曲線

通信接口

USB/RS232

光接口

FC/PC (可互換SC, ST)

供電方式

雙路供電:NiMH充電電池/ AC適配器

電池工作時間

一次充電後:連續操作≥8小時; 待機時間≥20小時

工作溫度(℃)

0~50

保存溫度(℃)

-20 ~ 70

相對濕度

0~95% (無結露)

重  量(kg)

1

體積 (長×寬×厚)(mm)

220×110×70

 

註釋:
(1)技術指標描述了用典型PC型連接器測量時儀器的保證性能。不考慮由於光纖折射率導致的不確定度;
(2)動態範圍是在最大脈衝寬度、平均時間3分鐘條件下測得;
(3)距離範圍中160Km檔和240Km檔只對本儀表的SUN-OT5000-S2,S3,S4型有效;120Km檔只對本儀表的SUN-OT5000-M,S1型有效;
(4)脈寬中5ns、10ns、300ns、10us檔和20us檔只對本儀表的SUN-OT5000-S2,S3,S4型有效;12ns和275ns檔只對本儀表的SUN-OT5000-M, S1型有效;
(5)盲區測量條件:對SUN-OT5000-M, S1型,反射事件在2.1Km處,反射強度<-35dB,用30ns脈寬進行測量;對SUN-OT5000-S2,S3,S4型,反射事件在0.6Km處,反射強度< -45dB,事件盲區用10ns脈寬進行測量,衰減盲區用30ns脈寬進行測量;
(6)盲區測量條件:反射事件在1Km處,反射強度<-32dB,用12ns脈寬進行測量。

標準配置:
主機、FC/PC激光連接器、充電電池、TraceManager軟件光盤、數據傳輸線(RS232/USB)、AC適配器、便攜軟包、保修卡、校準證書、快速操作手冊




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